舒适的(de)操作條件下(xià)進行可(kě)靠的(de)微觀結構和(hé)材料缺陷分(fēn)析

從三種 Axio Lab.A1 主機架中爲您的(de)應用(yòng)選擇合适的(de)配置：反射光(guāng)照(zhào)明(míng)和(hé)/或透射光(guāng)照(zhào)明(míng)；用(yòng)于無畸變和(hé)錐光(guāng)觀察的(de) Axio Lab.A1。

在金相學中，Axio Lab.A1廣泛應用(yòng)于高(gāo)樣品的(de)檢測。在結構檢測時(shí)，可(kě)以分(fēn)析金屬的(de)微觀結構和(hé)晶粒大(dà)小或者捕獲導緻材料缺陷的(de)相關機理(lǐ)信息，例如：疲勞度、腐蝕、應力裂紋和(hé)裂縫。 使用(yòng)130至1200萬像素的(de)數碼相機記錄檢測結果。

偏光(guāng)觀察方式可(kě)以在法醫檢測犯罪樣品時(shí)用(yòng)于表征頭發、泥土和(hé)纖維微觀的(de)結構。使用(yòng)明(míng)場(chǎng)、熒光(guāng)和(hé)偏光(guāng)顯微技術分(fēn)析噴漆和(hé)油漆碎片。如果您是一名地質學家，則可(kě)以使用(yòng)該儀器檢測岩石切面和(hé)礦物(wù)樣品，例如：用(yòng)于石油開采。在環境保護應用(yòng)中，它還(hái)能夠用(yòng)于辨識諸如石棉纖維材料的(de)微觀結構。

特點：

• 4 位反射光(guāng)轉盤選擇微觀結構檢測的(de)更佳觀察方式。借助壓按模塊增加其他(tā)觀察方式。
• 主機架内置有 50W 鹵素燈和(hé)電源。另外，LED 光(guāng)源具有恒定的(de)色溫、低功耗和(hé)超長(cháng)使用(yòng)壽命特點。
• Axio Lab.A1便于操作，隻需一隻手便可(kě)操控主要部件。
• 以舒服的(de)坐(zuò)姿研究非常細微的(de)結構，并記錄每種材料缺陷，即便長(cháng)時(shí)間使用(yòng)也(yě)不會感到疲勞。
• 選擇适合于無畸變或錐光(guāng)觀察的(de)主機架以偏光(guāng)觀察方式檢測雙折射材料。
• 用(yòng)于偏光(guāng)顯微觀察的(de) Axio Lab.A1 配有中心定位式 4 位物(wù)鏡轉盤。

偏光(guāng)：

多(duō)用(yòng)途偏光(guāng)檢測

Axio Lab.A1 是一款多(duō)用(yòng)途偏光(guāng)顯微鏡，可(kě)用(yòng)于地質學、礦物(wù)學、化(huà)石燃料資源的(de)勘探等應用(yòng)。

它能夠解決折射率、分(fēn)裂、雙折射、消光(guāng)角、光(guāng)程差及光(guāng)軸數量和(hé)角度的(de)相關問題。

可(kě)以使用(yòng)測量補償器擴展其應用(yòng)範圍。選擇固定式和(hé)旋轉式補償器來(lái)拍(pāi)攝大(dà)小光(guāng)程差，以及測定纖維狀物(wù)質的(de)光(guāng)學特性。360° 旋轉式載物(wù)台則用(yòng)于測量分(fēn)裂和(hé)消光(guāng)角。

适用(yòng)于錐光(guāng)觀察的(de)主機架展現了(le)檢偏器和(hé) Bertrand 透鏡的(de)出色結合。當 Bertrand 透鏡轉入光(guāng)路時(shí)，這(zhè)種邏輯機械耦合可(kě)以保證檢偏器轉至操作位置。