用(yòng)于高(gāo)級材料研究的(de)顯微鏡系統

将易操作性引入顯微工作流程 - Axio Imager 2 确保在質量檢驗和(hé)流程控制中提供精準且可(kě)重複的(de)結果。

Axio Imager 2 擁有出色的(de)光(guāng)學鏡頭和(hé)均勻照(zhào)明(míng)的(de)特性。觀察方式和(hé)光(guāng)路管理(lǐ)器能夠确保預設條件和(hé)可(kě)重複的(de)結果。配置了(le) ACR 功能的(de) Axio Imager.Z2m 能自動檢測和(hé)選擇物(wù)鏡以及觀察方式模塊。

從四種不同的(de)主機架中選擇您需要的(de)系統，并借助專業解決方案擴展應用(yòng)：Particle Analyzer、關聯顯微系統或 LSM 700。

特點：

• 具有超高(gāo)對(duì)比度和(hé)分(fēn)辨率的(de)出色光(guāng)學系統
• 模塊化(huà)主機設計，利用(yòng)一系列電動和(hé)編碼組件增強靈活度
• 穩定的(de)主機和(hé)無振動的(de)工作環境能夠确保觀測結果的(de)可(kě)重複性
• 使用(yòng)激光(guāng)共聚焦掃描顯微鏡 LSM 700 對(duì) Axio Imager 2 進行升級
• 在關聯顯微系統的(de)工作和(hé)顆粒度分(fēn)析中使用(yòng) Axio Imager 2
• 在質量檢驗和(hé)流程控制中，自動化(huà)功能可(kě)确保重複檢測結果的(de)精準

觀察方式：

觀察方式選擇

研究和(hé)檢測不同材料。分(fēn)析金屬結構、複合材料、玻璃、木(mù)材和(hé)陶瓷。檢查聚合物(wù)和(hé)液晶。

多(duō)種觀察方式可(kě)供選擇，以獲得(de)更多(duō)豐富的(de)信息。使用(yòng)反射光(guāng)，在明(míng)場(chǎng)、暗場(chǎng)、微分(fēn)幹涉（DIC）、圓微分(fēn)幹涉（C-DIC）、偏光(guāng)或熒光(guāng)下(xià)觀察樣品。使用(yòng)透射光(guāng)，在明(míng)場(chǎng)、暗場(chǎng)、微分(fēn)幹涉（DIC）、偏光(guāng)或圓偏光(guāng)下(xià)檢測樣品。

觀察方式管理(lǐ)器能确保 Axio Imager 2 的(de)照(zhào)明(míng)設置可(kě)複制。

人(rén)體工程學設計：

出衆的(de)表面應用(yòng)

Axio Imager.Z2m 或 Axio Imager.M2m 可(kě)以在觸摸屏上顯示關鍵操作功能，使用(yòng)指尖控制所有電動組件。

其他(tā)控制按鈕依照(zhào)人(rén)體工程學方式排列在調焦驅動裝置周邊，可(kě)通(tōng)過觸覺輕易的(de)區(qū)分(fēn)各控制按鈕。

Axio Imager.D2m 有 5 個(gè)預編程按鈕，而 Axio Imager.Z2m 則有 10 個(gè)用(yòng)戶自定義按鈕。

熱(rè)顯微技術：

Linkam 熱(rè)台 - 靈活記錄溫度變化(huà)

您是否想研究溫度對(duì)金屬、晶體、陶瓷或塑料的(de)影(yǐng)響？

結合 AxioVision 成像軟件和(hé) Linkam 熱(rè)台便可(kě)定制您的(de)加熱(rè)或制冷(lěng)實驗。在時(shí)間序列中顯示溫度值。每幅時(shí)間序列圖像中記錄了(le)溫度和(hé)真空數據。例如在質量控制應用(yòng)領域中觀察樣品在加熱(rè)和(hé)冷(lěng)卻過程中的(de)變化(huà)。