021-39530106
激光(guāng)平面幹涉儀
激光(guāng)平面幹涉儀-XQ15-G-上海思長(cháng)約光(guāng)學儀器有限公司

 可(kě)廣泛用(yòng)于工廠的(de)計量室、光(guāng)學車間和(hé)科研院所的(de)實驗室。光(guāng)學平面的(de)平面度測量、光(guāng)學平闆的(de)微小楔角測量、光(guāng)學材料均勻性測量、光(guāng)學薄闆波前誤差的(de)測量。

防震性能好、有極好的(de)條紋鎖定度、視場(chǎng)清晰、生産場(chǎng)所可(kě)用(yòng)性優于市場(chǎng)同類産品,大(dà)容量的(de)工作室爲大(dà)批量生産企業的(de)大(dà)鏡面檢測提供了(le)方便。

服務熱(rè)線:021-39530106
産品詳情
  GⅠ、GⅡ、GⅢ型激光(guāng)平面幹涉儀激光(guāng)平面幹涉儀用(yòng)途:
  可(kě)廣泛用(yòng)于工廠的(de)計量室、光(guāng)學車間和(hé)科研院所的(de)實驗室。光(guāng)學平面的(de)平面度測量、光(guāng)學平闆的(de)微小楔角測量、光(guāng)學材料均勻性測量、光(guāng)學薄闆波前誤差的(de)測量。
特點:
   激光(guāng)平面幹涉儀防震性能好、有極好的(de)條紋鎖定度、視場(chǎng)清晰、生産場(chǎng)所可(kě)用(yòng)性優于市場(chǎng)同類産品,大(dà)容量的(de)工作室爲大(dà)批量生産企業的(de)大(dà)鏡面檢測提供了(le)方便。
技術參數:
  1. 第一标準平面(A面),工作直徑D1=Φ146mm,平面的(de)面形偏差小于0.03μm(λ/20)

  2. 第二标準平面(B面),工作直徑D2=Φ140mm,平面的(de)面形偏差小于0.03μm(λ/20)

  3. 準直系統-----------------工作直徑Φ146mm,焦距 f = 400mm

  4. 光(guāng)源規格-----------------激光(guāng)ZN18(He-Ne)

  5. 幹涉室尺寸----------------Φ480×380×285mm

 

選配件一:
  精密升降工作台(适用(yòng)GⅠ、GⅡ型)

用(yòng)途:
主要用(yòng)于平晶、平行平晶等非鍍膜面高(gāo)精度平面度的(de)測量與檢定以及儀器采用(yòng)鈉光(guāng)或汞光(guāng)照(zhào)明(míng)時(shí)的(de)測量。

選配件二:
  透檢工作台(适用(yòng)GⅠ型)

用(yòng)途:
主要用(yòng)于超薄平行平闆的(de)波前誤差測量、光(guāng)學平闆微小楔角相對(duì)幹涉測量以及光(guāng)學材料折射率均勻性的(de)偏差判斷。

選配件三:
  高(gāo)反射面測量工作台(适用(yòng)GⅠ、GⅡ、GⅢ型)

用(yòng)途:
主要用(yòng)于鍍反射膜及高(gāo)折射率材料(如矽、鍺等材料)表面精度的(de)測量與檢定。

選配件四:
  顯示監控系統(适用(yòng)GⅠ型)

用(yòng)途:
顯示監控系統的(de)應用(yòng),可(kě)減輕操作者的(de)勞動強度,并可(kě)實施多(duō)人(rén)判讀與分(fēn)析,以達到教學與監控的(de)目的(de)。

選配件五:
  計算(suàn)機影(yǐng)像系統(适用(yòng)GⅠ、GⅡ、GⅢ型)

用(yòng)途:
影(yǐng)像系統的(de)應用(yòng),可(kě)将被檢測鏡面的(de)原始資料通(tōng)過計算(suàn)機保存和(hé)傳輸,以達到資料存檔及遠(yuǎn)程監控、驗收評定質量的(de)目的(de)。

選配件六:
  倍率成像測微系統(适用(yòng)GⅠ、GⅡ、GⅢ型)

用(yòng)途:
  主要用(yòng)于目視精确量值的(de)索得(de)及小型被測件幹涉條紋按要求放大(dà)測量與判讀。

技術參數:
  測微目鏡放大(dà)率15X
   倍率成像測微目鏡适用(yòng)範圍見下(xià)表:

規格 size

焦距 focal ength(mm)

放大(dà)倍率(β)
magnification

适用(yòng)被測口徑
Working aperture

F15

151

0.56

Ф90~Ф150

F23

23

0.86

Ф50~Ф105

F37

37

1.39

Ф60以下(xià)

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